https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27705| Title: | Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем |
| Authors: | Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | материалы конференций;псевдоисчерпывающее тестирование;запоминающие устройства;встраиваемые системы |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Леванцевич, В. А. Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем / В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2017 (ИТС 2017) = Information Technologies and Systems 2017 (ITS 2017) : материалы междунар. науч. конф. (Республика Беларусь, Минск, 25 октября 2017 года) / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2017. – С. 166 - 167. |
| Abstract: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств встраиваемых систем, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27705 |
| Appears in Collections: | ИТС 2017 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Levantsevich_Ispolzovaniye.PDF | 555.02 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.