| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | - |
| dc.contributor.author | Солодуха, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Соловьев, Я. А. | - |
| dc.contributor.author | Керенцев, А. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-12-29T07:51:02Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-29T07:51:02Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры / С. С. Волкенштейн и др. // Приборостроение 2017: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Минск, 1 – 3 октября 2017 г.). – Минск: БНТУ, 2017. – С. 284 – 285. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28937 | - |
| dc.description.abstract | Представлены результаты испытаний мощных транзисторов в металлокерамических корпусах КТ 97В с разным «финишным» покрытием (хим. НЗ и хим. НЗ3л4) и термокомпенсаторами (МД40 и МД50) к циклическому воздействию экстремальных температур – 140… +200оС. Установлено, что только при использовании термокомпенсатора МД-50 и выполнения монтажа методом эвтектической пайки на автоматизированном оборудовании при оптимальных технических режимах можно добиться незначительного изменения уровня теплового сопротивления. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БНТУ | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | циклическое воздействие | ru_RU |
| dc.subject | температура эвтектическоя пайка | ru_RU |
| dc.subject | термокомпенсотор | ru_RU |
| dc.title | Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
