Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28937
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВолкенштейн, С. С.-
dc.contributor.authorСолодуха, В. А.-
dc.contributor.authorСоловьев, Я. А.-
dc.contributor.authorКеренцев, А. Ф.-
dc.contributor.authorХмыль, А. А.-
dc.date.accessioned2017-12-29T07:51:02Z-
dc.date.available2017-12-29T07:51:02Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationПовышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры / С. С. Волкенштейн и др. // Приборостроение 2017: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Минск, 1 – 3 октября 2017 г.). – Минск: БНТУ, 2017. – С. 284 – 285.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28937-
dc.description.abstractПредставлены результаты испытаний мощных транзисторов в металлокерамических корпусах КТ 97В с разным «финишным» покрытием (хим. НЗ и хим. НЗ3л4) и термокомпенсаторами (МД40 и МД50) к циклическому воздействию экстремальных температур – 140… +200оС. Установлено, что только при использовании термокомпенсатора МД-50 и выполнения монтажа методом эвтектической пайки на автоматизированном оборудовании при оптимальных технических режимах можно добиться незначительного изменения уровня теплового сопротивления.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБНТУ, Республика Беларусьru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectциклическое воздействиеru_RU
dc.subjectтемпература эвтектическоя пайкаru_RU
dc.subjectтермокомпенсоторru_RU
dc.titleПовышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температурыru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Wolkenstein Povishenie.pdf277.96 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.