Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28937
Title: Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры
Authors: Волкенштейн, С. С.
Солодуха, В. А.
Соловьев, Я. А.
Керенцев, А. Ф.
Хмыль, А. А.
Keywords: публикации ученых;циклическое воздействие;температура эвтектическоя пайка;термокомпенсотор
Issue Date: 2017
Publisher: БНТУ, Республика Беларусь
Citation: Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры / С. С. Волкенштейн и др. // Приборостроение 2017: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Минск, 1 – 3 октября 2017 г.). – Минск: БНТУ, 2017. – С. 284 – 285.
Abstract: Представлены результаты испытаний мощных транзисторов в металлокерамических корпусах КТ 97В с разным «финишным» покрытием (хим. НЗ и хим. НЗ3л4) и термокомпенсаторами (МД40 и МД50) к циклическому воздействию экстремальных температур – 140… +200оС. Установлено, что только при использовании термокомпенсатора МД-50 и выполнения монтажа методом эвтектической пайки на автоматизированном оборудовании при оптимальных технических режимах можно добиться незначительного изменения уровня теплового сопротивления.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28937
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Wolkenstein Povishenie.pdf277.96 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.