Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30623
Title: Влияние геометрических неоднородностей на электромагнитные свойства экранов и поглотителей ЭМИ
Authors: Чембрович, В. Е.
Хижняк, А. В.
Борботько, Т. В.
Колбун, Н. В.
Терех, И. С.
Немцев, В. А.
Keywords: материалы конференций;промышленный шпионаж;конфиденциальная информация
Issue Date: 2003
Publisher: БГУИР, РБ
Citation: Влияние геометрических неоднородностей на электромагнитные свойства экранов и поглотителей ЭМИ / В. Е. Чембрович [и др.] // Технические средства защиты информации: Российско-Белорусская научно-техническая конференция, Минск-Нарочь, 19-23 мая 2003 г. – Минск: БГУИР, 2003. – С. 29–30.
Abstract: Промышленный шпионаж рано или поздно заставляет руководителя предприятия изучить аспекты защиты коммерческой тайны. Темпы развития рыночных отношений в стране превращают вопрос защиты от промышленного шпионажа в сложную проблему, к решению которой руководитель зачастую не готов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30623
Appears in Collections:ТСЗИ 2003

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Chembrovich_Vliyaniye.PDF283.38 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.