DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Абрамов, И. И. | - |
dc.contributor.author | Гончаренко, И. А. | - |
dc.contributor.author | Коломейцева, Н. В. | - |
dc.date.accessioned | 2018-03-28T12:52:26Z | - |
dc.date.available | 2018-03-28T12:52:26Z | - |
dc.date.issued | 2004 | - |
dc.identifier.citation | Абрамов, И. И. Исследование двухбарьерной резонансно- туннельной структуры на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной модели / И. И. Абрамов, И. А. Гончаренко, Н. В. Коломейцева // Доклады БГУИР. - 2004. - № 4 (8). - С. 42 - 46. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30744 | - |
dc.description.abstract | В данной работе проведено исследование влияния Г-Х рассеяния и температуры на вольт-
амперные характеристики (ВАХ) двухбарьерной резонансно-туннельной структуры (РТС)
на основе GaAs/AlAs с протяженными областями с использованием разработанной комби-
нированной двухзонной модели. Предложенная модель основана на самосогласованном
решении уравнений Шредингера и Пуассона и включена в систему моделирования нано-
электронных приборов NANODEV. С использованием двухзонной модели показано,
что учет Г-Х рассеяния существенно влияет на электрические характеристики прибора. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
dc.subject | резонансно-туннельная структура | ru_RU |
dc.subject | двухзонная модель | ru_RU |
dc.subject | пиковый ток | ru_RU |
dc.title | Исследование двухбарьерной резонансно- туннельной структуры на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной модели | ru_RU |
dc.title.alternative | Investigation of GaAs/AlAs double-barrier resonant tunnel structure with the use of combined two-band model | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | №4 (8)
|