Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМуравьев, В. В.-
dc.contributor.authorТамело, А. А.-
dc.contributor.authorМищенко, В. Н.-
dc.date.accessioned2018-04-02T12:58:34Z-
dc.date.available2018-04-02T12:58:34Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationМуравьев, В. В. Исследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaN = Research of electron transfer features in GaN semiconductor devices / В. В. Муравьев, А. А. Тамело, В. Н. Мищенко // Доклады БГУИР. – 2004. – № 4 (8). – С. 13–20.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811-
dc.description.abstractВ статье приводятся результаты исследования особенностей переноса электронов в материале GaN. Наиболее общим подходом при моделировании движения электронов в полупроводниковых структурах является использование уравнения Больцмана, для численного решения которого используется метод Монте-Карло. Определены основные электрофизические параметры материала GaN, которые необходимы для исследования переноса носителей заряда с использованием метода Монте-Карло. Рассчитаны значения частот рассеяния электронов в материале GaN.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectнитридыru_RU
dc.subjectмиллиметровые волныru_RU
dc.subjectметод Монте-Карлоru_RU
dc.subjectчастоты рассеянияru_RU
dc.titleИсследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaNru_RU
dc.title.alternativeResearch of electron transfer features in GaN semiconductor devicesru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
local.description.annotationResults of electron transfer features in GaN material research are cited. The most common approach of electron motion in semiconductor structures modelling is application of Boltzmann equation and Monte Carlo method used for its computational solution. Primary electrophysical parameters of GaN material are defined which are necessary for charge carriers transfer investigation applying Monte Carlo method. Frequencies of electron dispersion in GaN material are calculated.-
Appears in Collections:№4 (8)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Muraviev_Research.pdf653.96 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.