https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811
Title: | Исследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaN |
Other Titles: | Research of electron transfer features in GaN semiconductor devices |
Authors: | Муравьев, В. В. Тамело, А. А. Мищенко, В. Н. |
Keywords: | доклады БГУИР;нитриды;миллиметровые волны;метод Монте-Карло;частоты рассеяния |
Issue Date: | 2004 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Муравьев, В. В. Исследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaN / В. В. Муравьев, А. А. Тамело, В. Н. Мищенко // Доклады БГУИР. - 2004. - № 4 (8). - С. 13 - 20. |
Abstract: | В статье приводятся результаты исследования особенностей переноса электронов в мате- риале GaN. Наиболее общим подходом при моделировании движения электронов в полу- проводниковых структурах является использование уравнения Больцмана, для численного решения которого используется метод Монте-Карло. Определены основные электрофизиче- ские параметры материала GaN, которые необходимы для исследования переноса носителей заряда с использованием метода Монте-Карло. Рассчитаны значения частот рассеяния элек- тронов в материале GaN. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811 |
Appears in Collections: | №4 (8) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Muraviev_Research.pdf | 653.96 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.