| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Таболич, Т. Г. | - |
| dc.contributor.author | Лыньков, Л. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-10T09:52:18Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-10T09:52:18Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Таболич, Т. Г. Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек / Т. Г. Таболич, Л. М. Лыньков // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 94 - 100. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30937 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрена возможность определения функции развития отказа таксофонных электронных
карт с учетом развития деградационного процесса протекающего на этапе эксплуатации.
Показано, что временная зависимость развития массовых отказов модулей для электронных
пластиковых карт носит нормально-логарифмический характер. Модель является определяющей для выявления деградационных процессов, возникающих в процессе эксплуатации
карт с использованием электронных модулей безопасности и определения характерных точек плотности распределения отказов, что облегчает задачу определения надежности чипкарт. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | отказ | ru_RU |
| dc.subject | развитие отказа | ru_RU |
| dc.subject | деградационный процесс | ru_RU |
| dc.subject | электронная пластиковая карта | ru_RU |
| dc.title | Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек | ru_RU |
| dc.title.alternative | Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №3 (11)
|
