| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Таболич, Т. Г. | - |
| dc.contributor.author | Лыньков, Л. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-10T09:52:18Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-10T09:52:18Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Таболич, Т. Г. Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек = Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards / Т. Г. Таболич, Л. М. Лыньков // Доклады БГУИР. – 2005. – № 3 (11). – С. 94–100. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30937 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрена возможность определения функции развития отказа таксофонных электронных карт с учетом развития деградационного процесса протекающего на этапе эксплуатации. Показано, что временная зависимость развития массовых отказов модулей для электронных пластиковых карт носит нормально-логарифмический характер. Модель является определяющей для выявления деградационных процессов, возникающих в процессе эксплуатации карт с использованием электронных модулей безопасности и определения характерных точек плотности распределения отказов, что облегчает задачу определения надежности чипкарт. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | отказ | ru_RU |
| dc.subject | развитие отказа | ru_RU |
| dc.subject | деградационный процесс | ru_RU |
| dc.subject | электронная пластиковая карта | ru_RU |
| dc.title | Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек | ru_RU |
| dc.title.alternative | Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards components
using main equations of mechanism of failure development model of general theory of mathematical
statistics and probability theory is worked over. It is shown that electronic plastic card failure development depends on speed of basic efficiency index change uniformity coefficient, longevity reserve
and parameters diversity; and time dependence of failure density has normal logarithmic distributive
law. | - |
| Appears in Collections: | №3 (11)
|
