| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Занкович, А. П. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-11T12:26:27Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-11T12:26:27Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик, В. Н. Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ / В. Н. Ярмолик, А. П. Занкович // Доклады БГУИР. - 2005. - № 4 (12). - С. 62 - 72. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30980 | - |
| dc.description.abstract | В статье представлен обзор методов периодического неразрушающего тестирования схем
памяти. Основное внимание уделено неразрушающим аналогам классических маршевых ал-
горитмов. Рассмотрен получивший широкое распространение метод Николаидиса, а также
новые методы, основанные на локальной и глобальной симметрии данных. Приведена срав-
нительная оценка эффективности использования рассмотренных методов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающее тестирование | ru_RU |
| dc.subject | маршевые тесты | ru_RU |
| dc.subject | симметрия данных | ru_RU |
| dc.subject | условия скрытия и проявления ошибок | ru_RU |
| dc.subject | маскирование ошибок | ru_RU |
| dc.title | Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ | ru_RU |
| dc.title.alternative | Transparent memory testing methods overview | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №4 (12)
|
