https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30980| Title: | Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ |
| Other Titles: | Transparent memory testing methods overview |
| Authors: | Ярмолик, В. Н. Занкович, А. П. |
| Keywords: | неразрушающее тестирование;маршевые тесты;симметрия данных;условия скрытия и проявления ошибок;маскирование ошибок |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Ярмолик, В. Н. Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ = Transparent memory testing methods overview / В. Н. Ярмолик, А. П. Занкович // Доклады БГУИР. – 2005. – № 4 (12). – С. 62–72. |
| Abstract: | В статье представлен обзор методов периодического неразрушающего тестирования схем памяти. Основное внимание уделено неразрушающим аналогам классических маршевых алгоритмов. Рассмотрен получивший широкое распространение метод Николаидиса, а также новые методы, основанные на локальной и глобальной симметрии данных. Приведена сравнительная оценка эффективности использования рассмотренных методов. |
| Alternative abstract: | Overview of methods for periodical transparent memory testing is presented in the article. Transparent analogues of classical March algorithms receive primary attention. Wildly accepted method of Nicolaidis is considered here, as well as novel methods, that is based on local and global data symmetry. Comparison studies of considered methods are also presented. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30980 |
| Appears in Collections: | №4 (12) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Yarmolik_Transparent.pdf | 256.68 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.