Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЦиркунова, Н. Г.-
dc.contributor.authorКухаренко, Л. В.-
dc.contributor.authorЧижик, С. А.-
dc.contributor.authorБорисенко, В. Е.-
dc.date.accessioned2018-05-23T08:22:02Z-
dc.date.available2018-05-23T08:22:02Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationАртефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования / Н. Г. Циркунова и другие // Доклады БГУИР. - 2008. - № 3 (33). - С. 71 - 75.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596-
dc.description.abstractРассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови — лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectсканирующая зондовая микроскопияru_RU
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru_RU
dc.subjectдеградация зондаru_RU
dc.subjectдвойное остриеru_RU
dc.titleАртефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканированияru_RU
dc.title.alternativeMeasurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanningru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:№3 (33)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsirkunova_Measurement.PDF592.44 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.