Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЦиркунова, Н. Г.-
dc.contributor.authorКухаренко, Л. В.-
dc.contributor.authorЧижик, С. А.-
dc.contributor.authorБорисенко, В. Е.-
dc.date.accessioned2018-05-23T08:22:02Z-
dc.date.available2018-05-23T08:22:02Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationАртефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования = Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning / Н. Г. Циркунова [и др.] // Доклады БГУИР. – 2008. – № 3 (33). – С. 71–75.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596-
dc.description.abstractРассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови – лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectсканирующая зондовая микроскопияru_RU
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru_RU
dc.subjectдеградация зондаru_RU
dc.subjectдвойное остриеru_RU
dc.titleАртефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканированияru_RU
dc.title.alternativeMeasurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanningru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
local.description.annotationOrigins and examples of metric errors during investigations of solids and biological objects with atomic force microscope (AFM) have been analyzed and presented. Degradation of the probe tip is shown to be the main reason for the artifacts observed. AFM images obtained with twinned tip are demonstrated as a striking artifact.-
Appears in Collections:№3 (33)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsirkunova_Measurement.PDF592.44 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.