DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Циркунова, Н. Г. | - |
dc.contributor.author | Кухаренко, Л. В. | - |
dc.contributor.author | Чижик, С. А. | - |
dc.contributor.author | Борисенко, В. Е. | - |
dc.date.accessioned | 2018-05-23T08:22:02Z | - |
dc.date.available | 2018-05-23T08:22:02Z | - |
dc.date.issued | 2008 | - |
dc.identifier.citation | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования = Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning / Н. Г. Циркунова [и др.] // Доклады БГУИР. – 2008. – № 3 (33). – С. 71–75. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596 | - |
dc.description.abstract | Рассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови – лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
dc.subject | сканирующая зондовая микроскопия | ru_RU |
dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
dc.subject | деградация зонда | ru_RU |
dc.subject | двойное острие | ru_RU |
dc.title | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования | ru_RU |
dc.title.alternative | Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
local.description.annotation | Origins and examples of metric errors during investigations of solids and biological objects
with atomic force microscope (AFM) have been analyzed and presented. Degradation of the probe tip
is shown to be the main reason for the artifacts observed. AFM images obtained with twinned tip are
demonstrated as a striking artifact. | - |
Appears in Collections: | №3 (33)
|