Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Название: Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования
Другие названия: Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning
Авторы: Циркунова, Н. Г.
Кухаренко, Л. В.
Чижик, С. А.
Борисенко, В. Е.
Ключевые слова: доклады БГУИР;сканирующая зондовая микроскопия;атомно-силовая микроскопия;деградация зонда;двойное острие
Дата публикации: 2008
Издательство: БГУИР
Описание: Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования / Н. Г. Циркунова и другие // Доклады БГУИР. - 2008. - № 3 (33). - С. 71 - 75.
Аннотация: Рассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови — лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Располагается в коллекциях:№3 (33)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Tsirkunova_Measurement.PDF592.44 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.