Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Title: Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования
Other Titles: Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning
Authors: Циркунова, Н. Г.
Кухаренко, Л. В.
Чижик, С. А.
Борисенко, В. Е.
Tsirkunova, N. G.
Kukharenko, L. V.
Chizhik, S. A.
Borisenko, V. E.
Keywords: доклады БГУИР
сканирующая зондовая микроскопия
атомно-силовая микроскопия
деградация зонда
двойное острие
Issue Date: 2008
Publisher: БГУИР
Citation: Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования / Н. Г. Циркунова и другие // Доклады БГУИР. - 2008. - № 3 (33). - С. 71 - 75.
Abstract: Рассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови — лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Appears in Collections:№3 (33)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsirkunova_Measurement.PDF592,44 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.