https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596
Title: | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования |
Other Titles: | Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning |
Authors: | Циркунова, Н. Г. Кухаренко, Л. В. Чижик, С. А. Борисенко, В. Е. |
Keywords: | доклады БГУИР;сканирующая зондовая микроскопия;атомно-силовая микроскопия;деградация зонда;двойное острие |
Issue Date: | 2008 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования = Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning / Н. Г. Циркунова [и др.] // Доклады БГУИР. – 2008. – № 3 (33). – С. 71–75. |
Abstract: | Рассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования. На примере АСМ-изображений клеток крови – лейкоцитов, полученных зондом с двумя разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца. |
Alternative abstract: | Origins and examples of metric errors during investigations of solids and biological objects with atomic force microscope (AFM) have been analyzed and presented. Degradation of the probe tip is shown to be the main reason for the artifacts observed. AFM images obtained with twinned tip are demonstrated as a striking artifact. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596 |
Appears in Collections: | №3 (33) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Tsirkunova_Measurement.PDF | 592.44 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.