Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842
Title: Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок
Authors: Нгуен, А. Т.
Цветков, В. Ю.
Keywords: материалы конференций;поиск локальных экстремумов;выращиваемые маски;выращивание областей
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Нгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156.
Abstract: Предложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и многопиксельные экстремумы.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842
Appears in Collections:BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Nguyen_Poisk.PDF780.7 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.