Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842
Название: Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок
Авторы: Нгуен, А. Т.
Цветков, В. Ю.
Ключевые слова: материалы конференций;поиск локальных экстремумов;выращиваемые маски;выращивание областей
Дата публикации: 2019
Издательство: БГУИР
Библиографическое описание: Нгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156.
Аннотация: Предложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и многопиксельные экстремумы.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842
Располагается в коллекциях:BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня (2019)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Nguyen_Poisk.PDF780.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.