Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛеванцевич, В. А.-
dc.date.accessioned2019-06-17T13:37:03Z-
dc.date.available2019-06-17T13:37:03Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationЛеванцевич, В. А. Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ / В. А. Леванцевич // Компьютерные системы и сети: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 117 – 119.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364-
dc.description.abstractИсследуется возможность использования многократных вероятностных тестов с изменяемым начальным состоянием ячеек памяти для псевдо-исчерпывающего тестирования ОЗУ. Определено среднее число итераций многократного теста для исчерпывающего тестирования заданного количества ячеек памяти.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectтестирование ОЗУru_RU
dc.subjectпсевдо-исчерпывающие тестыru_RU
dc.titleИспользование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Levantsevich_Ispolzovaniye.pdf451.78 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.