https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35618| Title: | Временные отказы микропроцессорных устройств систем безопасности и оценка вероятности их возникновения |
| Authors: | Майоров, Л. В. Боровиков, С. М. |
| Keywords: | материалы конференций;системы безопасности;временные отказы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Майоров, Л. В. Временные отказы микропроцессорных устройств систем безопасности и оценка вероятности их возникновения / Л. В. Майоров, С. М. Боровиков // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 11 июня 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2019. – С. 45 – 46. |
| Abstract: | К временным отказам (сбоям) устройств систем безопасности на основе микропроцессоров чаще всего приводят электромагнитные воздействия внешней среды, остальные виды воздействий обычно приводят к необратимым повреждениям в структуре электронных компонентов, в связи с чем устройство полностью теряет свои функции, частично или полностью. Временные отказы микропроцессорных устройств являются следствием проблем электромагнитной помехозащищенности как по линиям питания, так и по средам распространения полезных сигналов (провода, радиоэфир). |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35618 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2019 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Mayorov_Vremennyye.pdf | 120.74 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.