https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35808| Title: | Исследование скрытых дефектов диэлектрических слоев контролем величины заряда пробоя |
| Authors: | Назаров, И. В. |
| Keywords: | авторефераты диссертаций;технологии интегральных микросхем;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Назаров, И. В. Исследование скрытых дефектов диэлектрических слоев контролем величины заряда пробоя : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1- 39 81 01 / И. В. Назаров; науч. рук. Г. Г. Чигирь. - Минск : БГУИР, 2019. – 16 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35808 |
| Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Nazarov_Issledovanie.pdf | 2.89 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.