Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36278
| Title: | Методы оценки радиационной стойкости элементной базы биполярных интегральных микросхем |
| Authors: | Стельмахов, Р. В. |
| Keywords: | материалы конференций;интегральные микросхемы;радиационная стойкость |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Стельмахов, Р. В. Методы оценки радиационной стойкости элементной базы биполярных интегральных микросхем / Р. В. Стельмахов // Радиотехника и электроника: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 220–221. |
| Abstract: | Целью работы является разработка расчетно-экспериментальных методов оценки стойкости
биполярных интегральных микросхем к воздействию ионизирующих излучений. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36278 |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
