Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36280
Title: Радиационная стойкость биполярных интегральных микросхем
Authors: Стельмахов, Р. В.
Keywords: материалы конференций;биполярные интегральные микросхемы;транзисторы
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Стельмахов, Р. В. Радиационная стойкость биполярных интегральных микросхем / Р. В. Стельмахов // Радиотехника и электроника: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 212–213.
Abstract: Целью работы является исследование основных параметров транзисторов (коэффициента усиления по току, токов утечки и падения напряжения на переходах коллектор-база и эмиттер-база), являющихся элементной базой биполярных интегральных микросхем, в условиях воздействия радиации.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36280
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Stelmakhov_Radiatsionnaya.pdf478.08 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.