https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36614| Title: | Многоуровневая функциональная визуализация интерфейсов с помощью атомно-силовой микроскопии |
| Authors: | Букато, А. В. Досова, А. П. |
| Keywords: | материалы конференций;атомно-силовая микроскопия;зондовая микроскопия Кельвина |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Букато, А. В. Многоуровневая функциональная визуализация интерфейсов с помощью атомно-силовой микроскопии / А. В. Букато, А. П. Досова // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 67–68. |
| Abstract: | Пространственное разрешение атомно-силовой микроскопии зависит от размера кантилевера и кривизны его острия. Здесь описывается новая мультифункциональная техника функциональной визуализации, которая позволяет настраивать пространственное разрешение на месте. Данная техника может применяться к широкому спектру неоднородных материалов, устройств и интерфейсов. Пространственное разрешение результирующего изображения определяется d-зависимостью сигнала. Электростатические измерения с зондовой микроскопией Кельвина с открытым контуром показывают, что можно применять несколько силовых модуляций одновременно. Кроме того, этот метод может применяться к любой силе наконечника- образца, что показывает универсальность метода. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36614 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Bukato_Mnogourovnevaya.pdf | 503.84 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.