https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36625| Title: | Получение изображений тонких пленок с помощью атомно-силовой микроскопии. Сверхвысокое разрешение |
| Authors: | Досова, А. П. Букато, А. В. |
| Keywords: | материалы конференций;атомно-силовая микроскопия;изображения полимеров |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Досова, А. П. Получение изображений тонких пленок с помощью атомно-силовой микроскопии. Сверхвысокое разрешение / А. П. Досова, А. В. Букато // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 110–111. |
| Abstract: | Изображения полимеров в реальном пространстве с субмолекулярным разрешением могут дать ценную информацию о связи между морфологией и функциональностью полимерных оптоэлектронных устройств, но их получение проблематично из-за предполагаемых ограничений в атомно-силовой микроскопии (АСМ). В данной статье описывается способ, позволяющий получить изображения поверхности тонких пленок со сверхвысоким разрешением с помощью АСМ. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36625 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Dosova_Polucheniye.pdf | 547.41 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.