| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Загорский, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-30T10:02:34Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-30T10:02:34Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Загорский, А. В. Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей / Загорский А. В. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 124. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37004 | - |
| dc.description.abstract | Эффекты воздействия на МОП-транзисторы «горячих» носителей и радиации имеют близкую природу. Они
сводятся к зарядке окисла, образованию поверхностных состояний и изменению крутизны вольтамперных характеристик.
Эти факторы действуют совместно, как это имеет место в аппаратуре, функционирующей в условиях космического
пространства. В этой статье рассмотрены условия проведения метода ускоренных испытаний на деградацию параметров и
проанализированы закономерности процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | МОП-транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | n-МОП-транзисторы | ru_RU |
| dc.title | Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
