| Title: | Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей |
| Authors: | Загорский, А. В. |
| Keywords: | материалы конференций;МОП-транзисторы;n-МОП-транзисторы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Загорский, А. В. Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей / А. В. Загорский // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 124. |
| Abstract: | Эффекты воздействия на МОП-транзисторы «горячих» носителей и радиации имеют близкую природу. Они
сводятся к зарядке окисла, образованию поверхностных состояний и изменению крутизны вольтамперных характеристик.
Эти факторы действуют совместно, как это имеет место в аппаратуре, функционирующей в условиях космического
пространства. В этой статье рассмотрены условия проведения метода ускоренных испытаний на деградацию параметров и
проанализированы закономерности процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37004 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
