https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286| Title: | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем |
| Authors: | Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | материалы конференций;оперативные запоминающие устройства;тест March С |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Леванцевич, В. А. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем / Леванцевич В. А. // Информационные технологии и системы 2019 (ИТС 2019) = Information Teсhnologies and Systems 2019 (ITS 2019) : материалы международной научной конференции, Минск, 30 октября 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2019. – С. 138 – 139. |
| Abstract: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) встраиваемых систем. Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с изменяемым начальным состоянием для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ. Приводятся оценки минимальной, средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286 |
| Appears in Collections: | ИТС 2019 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Levantsevich_Psevdoischerpyvayushcheye.pdf | 461.77 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.