| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Гапчинский, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Кривоус, А. И. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-11-16T09:01:53Z | - |
| dc.date.available | 2019-11-16T09:01:53Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Гапчинский, В. А. Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ / В. А. Гапчинский, А. И. Кривоус // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 269–270. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37314 | - |
| dc.description.abstract | В работе представлены результаты исследований обработки СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью программы ImageJ. Результаты обработки позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | СЭМ-изображение | ru_RU |
| dc.title | Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
