https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37314| Title: | Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ |
| Authors: | Гапчинский, В. А. Кривоус, А. И. |
| Keywords: | материалы конференций;СЭМ-изображение |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Гапчинский, В. А. Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ / В. А. Гапчинский, А. И. Кривоус // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 269–270. |
| Abstract: | В работе представлены результаты исследований обработки СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью программы ImageJ. Результаты обработки позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37314 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Gapchinskiy_Obrabotka.pdf | 612.02 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.