Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37458
Title: Количественный анализ нанорельефа поверхности металлических пленок на стекле по данным сканирующей зондовой микроскопии
Authors: Ташлыкова-Бушкевич, И. И.
Мойсейчик, Е. С.
Лобач, Р. Д.
Суходольский, Д. В.
Keywords: публикации ученых;ионно-ассистированное осаждение;сканирующая зондовая микроскопия;смачиваемость;молибден
Issue Date: 2019
Publisher: Белорусский государственный университет, Республика Беларусь
Citation: Количественный анализ нанорельефа поверхности металлических пленок на стекле по данным сканирующей зондовой микроскопии / И. И. Ташлыкова-Бушкевич [и др.] // Материалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10 - 11 октября 2018 г. / редкол.: В.Б. Оджаев [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 111–117.
Abstract: В данной работе рассмотрены вопросы, касающиеся анализа поверхностного нанорельфа, а также взаимосвязь параметров шероховатости тонких металлических пленок с их физико-химическими свойствами. Показано, как компьютерная обработка полученных с помощью атомно-силовой микроскопии изображений поверхности тонких пленок молибдена на стекле позволяет получить количественную информацию о поперечных и продольных характеристиках шероховатости поверхности, а также распределении высот и впадин нанорельефа в зависимости от условий формирования покрытий. Предложено использование нового исследовательского гибридного параметра k, который количественно характеризует форму неровностей профиля. Установленная зависимость равновесного краевого угла смачивания пленок водой от k демонстрирует, что смачиваемость системы Mo/подложка определяется особенностями нанорельефа поверхности.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37458
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tashlykova_Bushkevich_Kolichestvenniy.pdf736.61 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.