https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3921| Title: | Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов к воздействию электромагнитных помех |
| Other Titles: | Susceptibility analysis of semiconductor devices to electromagnetic interference |
| Authors: | Титович, Н. А. Ползунов, В. В. |
| Keywords: | доклады БГУИР;полупроводниковые приборы;электромагнитые помехи |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Титович, Н. А. Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов к воздействию электромагнитных помех / Н. А. Титович, В. В. Ползунов // Доклады БГУИР. – 2015. – № 2(88). – С. 114–118. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3921 |
| Appears in Collections: | №2 (88) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Titovich_Issledovaniye.PDF | 652.27 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.