https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41001| Title: | Проблемы надежности электронных компонентов |
| Authors: | Даниленко, А. В. Ращинский, О. Д. |
| Keywords: | материалы конференций;электронные компоненты;надежность |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Даниленко, А. В. Проблемы надежности электронных компонентов / А. В. Даниленко, О. Д. Ращинский // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 488. |
| Abstract: | В статье рассмотрены проблемы надежности электронных компонентов, рассмотрены варианты отбраковки ненадежных компонентов и предложен метод пороговой логики для отбраковки заведомо ненадежных электронных компонентов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41001 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Danilenko_Problemy.pdf | 503.1 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.