Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41027
Title: Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров
Authors: Казючиц, В. О.
Keywords: материалы конференций;полупроводниковые приборы;прогнозирование надежности
Issue Date: 2020
Publisher: БГУИР
Citation: Казючиц, В. О. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров / В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 542.
Abstract: В докладе приводятся основные проблемы прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, приводится обоснование актуальности использования методов прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, а также описывается метод индивидуального прогнозирования полупроводниковых приборов по информативным параметрам.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41027
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kazyuchits_Prognozirovaniye.pdf455.57 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.