Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42843
Title: Устройство коррекции многократных стираний
Other Titles: Пат. 9428 U Респ. Беларусь
Authors: Салас Валор Нестор Альфредо
Конопелько, В. К.
Королев, А. И.
Хоанг Нгок Зыонг
Keywords: патенты;многократные стирания;стирание информации;помехоустойчивое кодирование
Issue Date: 2013
Publisher: Национальный центр интеллектуальной собственности
Citation: Устройство коррекции многократных стираний : пат. 9428 U Респ. Беларусь : МПК (2006) H 04L 1/00, H 03M 13/00 / Салас Валор Нестор Альфредо, Конопелько В. К., Королёв А. И., Хоанг Нгок Зыонг ; заявитель и патентообладатель УО Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – № u 20130022 ; заявл. 08.01.2013 ; опубл. 30.08.2013. – 7 с. : ил.
Abstract: Устройство коррекции многократных стираний, содержащее блок вычисления синдромов (БВС), регистр адресов стираний (РС), последовательно соединенные блок элементов И и блок элементов ИЛИ, отличающееся тем, что введены два инвертора, два регистра сдвига, второй блок вычисления синдромов, блок идентификации кратности ошибок, три блока элементов И, второй блок элементов ИЛИ, блок коррекции ошибок и выходной сумматор по модулю два, выход которого является выходом устройства коррекции многократных стираний, первый вход сумматора по модулю два подключен к выходу блока коррекции ошибок, а второй вход выходного сумматора по модулю два объединен с соответствую- щими входами второго и третьего блоков элементов И и подключен к выходу второго инвертора, вход которого объединен с соответствующими входами первой группы первого и четвертого блоков элементов И и подключен к выходу блока идентификации кратности ошибок (БИКО), а вторая группа входов первого блока элементов И объединена со входами первой группы блока идентификации кратности ошибок и подключена к выходам первого блока вычисления синдрома, вторая группа входов БИКО объединена со входами первой группы второго блока элементов И и подключена к выходам второго блока вычисления синдромов, а первая группа входов третьего блока элементов И объединена со входами второго блока вычисления синдромов и подключена к выходам второго регистра сдвига, а вторая группа входов четвертого блока элементов И объединена со входами первого блока вычисления синдромов и подключена к выходам первого регистра сдвига, группа входов которого объединена с группой входов второго регистра сдвига и подключена к соответствующим выходам регистра адресов стираний, вход которого подключен к датчику стираний символов, а дополнительный вход второго регистра сдвига подключен к выходу первого инвертора, вход которого объединен с дополнительным входом первого регистра сдвига и является входом устройства коррекции многократных стираний, а первая и вторая группы входов блока коррекции ошибок (БКО) подключены к соответствующим выходам соответственно первого и второго блоков элементов ИЛИ, первая и вторая группы входов первого блока элементов ИЛИ подключены к соответствующим выходам соответственно первого и второго блоков элементов И, а первая и вторая группы входов второго блока элементов ИЛИ подключены к соответствующим выходам соответственно третьего и четвертого блоков элементов И.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42843
Appears in Collections:Полезные модели

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
9428.pdf358.42 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.