Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43237
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДаниленко, А. В.-
dc.date.accessioned2021-03-23T06:28:58Z-
dc.date.available2021-03-23T06:28:58Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationДаниленко, А. В. Надёжность полупроводников на различных этапах эксплуатации / А. В. Даниленко // Інформаційне суспільство: технологічні, економічні та технічні аспекти становлення : міжнародна наукова інтернет-конференція, Тернопіль, 9 лютого 2021 р. / Оргкомітет МНІК "Конференція онлайн". – Тернопіль, 2021. – С. 15–17.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43237-
dc.description.abstractСтатья посвящена анализу надежности полупроводниковых элементов и вероятности их отказа в зависимости от этапа эксплуатации.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherОргкомітет МНІК "Конференція онлайн"ru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectэксплуатация полупроводниковых элементовru_RU
dc.subjectнадежность полупроводниковru_RU
dc.titleНадёжность полупроводников на различных этапах эксплуатацииru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Danilenko_Nadezhnost.pdf208.87 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.