Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43237
Title: Надёжность полупроводников на различных этапах эксплуатации
Authors: Даниленко, А. В.
Keywords: публикации ученых;эксплуатация полупроводниковых элементов;надежность полупроводников
Issue Date: 2021
Publisher: Оргкомітет МНІК "Конференція онлайн"
Citation: Даниленко, А. В. Надёжность полупроводников на различных этапах эксплуатации / А. В. Даниленко // Інформаційне суспільство: технологічні, економічні та технічні аспекти становлення : міжнародна наукова інтернет-конференція, Тернопіль, 9 лютого 2021 р. / Оргкомітет МНІК "Конференція онлайн". – Тернопіль, 2021. – С. 15–17.
Abstract: Статья посвящена анализу надежности полупроводниковых элементов и вероятности их отказа в зависимости от этапа эксплуатации.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43237
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Danilenko_Nadezhnost.pdf208.87 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.