| Title: | Анализ механизмов нарушающих функционирование микросхем |
| Other Titles: | Analysis of mechanisms disturing the functioning of microcircuits |
| Authors: | Даниленко, А. В. |
| Keywords: | материалы конференций;отказ микросхем;микроэлектроника;microcircuit failure;microelectronics |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Даниленко, А. В. Анализ механизмов нарушающих функционирование микросхем = Analysis of mechanisms disturing the functioning of microcircuits / А. В. Даниленко // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 624–627. |
| Abstract: | Надежность интегральных микросхем определяется надежностью, входящих в него элементов. Для обеспечения качественного функционирования устройства необходимо убедиться, что элементы, входящие в ее состав, обладают значениями надежности достаточными для безотказной работы всей системы. В статье рассмотрены несколько возможных причин отказов интегральных микросхем. The reliability of integrated circuits is determined by the reliability of the elements included in it. To ensure the high-quality functioning of the device, it is necessary to make sure that the elements that make up it have reliability values sufficient for the failure-free operation of the entire system. The article discusses several possible causes of failures of integrated circuits. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43711 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)
|
