Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43869
Title: Simulation of the complex impact of thermal and shock loads on electronic modules
Other Titles: Моделирование комплексного воздействия тепловых и ударных нагрузок на электронные модули
Authors: Bavbel, E. I.
Alekseev, V. F.
Piskun, G. A.
Keywords: публикации ученых;thermal shock;shock loads;electronic modules
Issue Date: 2020
Publisher: Севастопольский государственный университет
Citation: Bavbel, E. I. Simulation of the complex impact of thermal and shock loads on electronic modules / E. I. Bavbel, V. F. Alekseev, G. A. Piskun // Современные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : сб. науч. тр. / Севастопольский государственный университет ; редкол.: А. А. Савочкин [и др.]. – Севастополь, 2020. – № 3. – С. 176.
Abstract: A technique for the optimal design of electronic modules is proposed. At the same time, the methodology is based on the system principles of the analysis of complex systems, complex modeling of physical processes in electronic modules and finding optimal solutions.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43869
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bavbel_Simulation1.pdf1.37 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.