Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44240
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДеменковец, Д. В.-
dc.date.accessioned2021-06-17T12:20:22Z-
dc.date.available2021-06-17T12:20:22Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationДеменковец, Д. В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети: 57-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 19-23 апреля 2021 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2021. – С. 37–38.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44240-
dc.description.abstractАнализируется эффективность применения неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств (ЗУ). Синтезируется базовый элемент неразрушающих тестов с применением двойных адресных последовательностей. Приводится неразрушающий тест ЗУ March_2А_1 для которого оценивается его временная сложность и эффективность обнаружения неисправностей ЗУ.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectтестирование запоминающих устройствru_RU
dc.subjectдвойные адресные последовательностиru_RU
dc.titleНеразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностейru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник тезисов докладов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Demenkovets_Nerazrushayushcheye.pdf453.37 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.