Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44337
Title: Стабильность и электронные свойства тонких пленок Mg2Si
Authors: Алексеев, А. Ю.
Кропачев, О. В.
Чернев, И. М.
Галкин, К. Н.
Keywords: материалы конференций
наноструктуры
тонкие пленки
Issue Date: 2021
Publisher: БГУИР, РБ
Citation: Стабильность и электронные свойства тонких пленок Mg2Si / Алексеев А. Ю. [и др.] // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель 2021 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2021. – С. 97–99.
Abstract: В результате моделирования из первых принципов были предсказаны наиболее стабильные структуры тонких пленок силицида магния, состоящего из одного, двух и трѐх 2D Mg 2 Si-слоѐв. Двумерная структура из одного 2D Mg 2 Si-слоя стабильна в Td фазе и является прямозонным полупроводником с шириной запрещѐнной зоны 0,45 эВ. Обнаружено, что построение тонких пленок из большего количества 2D слоѐв в Td фазе воспроизводит орторомбическую фазу, типичную для Ca2Si. Установлено, что многослойные тонкие пленки в Td фазе оказались менее стабильными, чем структуры в фазе T, которые воспроизводят объѐмную кубическую фазу Mg 2 Si, и имеют ширину запрещѐнной зоны 0,74 и 0,56 эВ для двух и трѐх 2D Mg 2 Si-слоѐв, соответственно.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44337
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Alekseyev_Stabilnost.pdf1,07 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.