Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44375
Title: Влияние ориентации свободной поверхности в слоистых Si/Ge пленках на поперечную решеточную теплопроводность
Authors: Хомец, А. Л.
Холяво, И. И.
Сафронов, И. В.
Keywords: материалы конференций;теплопроводность;решетчатая теплопроводность;кристаллография
Issue Date: 2021
Publisher: БГУИР
Citation: Хомец, А. Л. Влияние ориентации свободной поверхности в слоистых Si/Ge пленках на поперечную решеточную теплопроводность / Хомец А. Л., Холяво И. И., Сафронов И. В. // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель 2021 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2021. – С. 108–109.
Abstract: В данной работе представлены результаты исследования теплопроводности для тонких слоистых пленок Si/Ge с (110), (100) и (111) кристаллографическими ориентациями. Установлены морфологии слоистых тонких плѐнок с минимальными значениями теплопроводности, а также выявлено влияние количества и толщины индивидуальных слоев на решеточную теплопроводность.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44375
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Khomets_Vliyaniye.pdf686.04 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.