Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45561
Title: Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разряда
Authors: Алексеев, В. Ф.
Пискун, Г. А.
Сыс, А. Д.
Keywords: публикации ученых;силовые интегральные микросхемы;электростатические разряды;power integrated circuits;electrostatic discharges
Issue Date: 2021
Publisher: European Scientific Platform
Citation: Алексеев, В. Ф. Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разряда / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, А. Д. Сыс // Interdisciplinary research: scientific horizons and perspectives : II International Scientific and Theoretical Conference, Vilnius, October 1, 2021 / European Scientific Platform. – Vilnius, 2021. – P. 114–116. – DOI : https://doi.org/10.36074/scientia-01.10.2021.
Abstract: Показана, что к электронной аппаратуре предъявляются все более жесткие требования по повышению быстродействия и надежности при снижении габаритных размеров и энергопотребления. Рассмотрены силовые микросхемы, для которых, в связи с малыми топологическими размерами элементов, показаны эффективные методы защиты от воздействия электростатического разряда.
Alternative abstract: It is shown that more and more stringent requirements are imposed on electronic equipment to improve performance and reliability while reducing overall dimensions and power consumption. Power microcircuits are considered, for which, due to the small topological dimensions of the elements, effective methods of protection against the effects of electrostatic discharge are shown.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45561
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Alekseyev_Obzor.pdf327.04 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.