https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45561| Название: | Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разряда |
| Авторы: | Алексеев, В. Ф. Пискун, Г. А. Сыс, А. Д. |
| Ключевые слова: | публикации ученых;силовые интегральные микросхемы;электростатические разряды;power integrated circuits;electrostatic discharges |
| Дата публикации: | 2021 |
| Издательство: | European Scientific Platform |
| Описание: | Алексеев, В. Ф. Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разряда / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, А. Д. Сыс // Interdisciplinary research: scientific horizons and perspectives : II International Scientific and Theoretical Conference, Vilnius, October 1, 2021 / European Scientific Platform. – Vilnius, 2021. – P. 114–116. – DOI : https://doi.org/10.36074/scientia-01.10.2021. |
| Аннотация: | Показана, что к электронной аппаратуре предъявляются все более жесткие требования по повышению быстродействия и надежности при снижении габаритных размеров и энергопотребления. Рассмотрены силовые микросхемы, для которых, в связи с малыми топологическими размерами элементов, показаны эффективные методы защиты от воздействия электростатического разряда. |
| Аннотация на другом языке: | It is shown that more and more stringent requirements are imposed on electronic equipment to improve performance and reliability while reducing overall dimensions and power consumption. Power microcircuits are considered, for which, due to the small topological dimensions of the elements, effective methods of protection against the effects of electrostatic discharge are shown. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45561 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в зарубежных изданиях |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Alekseyev_Obzor.pdf | 327.04 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.