Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46951
Title: Уровневые модели и волновые алгоритмы сегментации АСМ-изображений
Other Titles: Level models and wave algorithms for segmentation of AFM images
Authors: Рабцевич, В. В.
Цветков, В. Ю.
Rabtsevich, V. V.
Tsviatkou, V. Yu.
Keywords: материалы конференций
микроскопы
атомные силовые микроскопы
полутоновые изображения
микроскопия
image segmentation
image models
atomic force microscopy
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР, РБ
Citation: Рабцевич, В. В. Уровневые модели и волновые алгоритмы сегментации АСМ-изображений / В. В. Рабцевич, В. Ю. Цветков // Технологии передачи и обработки информации : материалы международного научно-технического семинара, Минск, март-апрель 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 50–56.
Abstract: Предложены уровневые модели и алгоритмы волновой сегментации полутоновых изображений поверхностей материалов, получаемых с помощью атомного силового микроскопа. Показано, что комбинация результатов нескольких алгоритмов позволяет повысить точность сегментации и определить соответствие фрагментов изображений предложенным моделям. Level models and algorithms for wave segmentation of halftone images of material surfaces obtained with an atomic force microscope are proposed. It is shown that the combination of the results of several algorithms can improve the accuracy of segmentation and determine the correspondence of image fragments to the proposed models.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46951
Appears in Collections:Технологии передачи и обработки информации : материалы международного научно-технического семинара (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Rabtsevich_Urovnevyye.pdf162.78 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.