Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47085
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКалита, Е. В.-
dc.contributor.authorКазючиц, В. О.-
dc.date.accessioned2022-05-24T07:47:32Z-
dc.date.available2022-05-24T07:47:32Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationКалита, Е. В. Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработку / Е. В. Калита, В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 57–59. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47085-
dc.description.abstractОбоснованы условия проведения ускоренных форсированных испытаний биполярных транзисторов большой мощности типа КТ872А. В качестве факторов, ускоряющих испытания, выбраны повышенная температура и обратное напряжение, прикладываемое к коллектору транзисторов. Рассчитан коэффициент ускорения испытаний относительно рабочего режима работы транзисторов. The conditions for conducting accelerated forced tests of high-power bipolar transistors of the KT872A type are substantiated. Elevated temperature and reverse voltage applied to the collector of transistors are chosen as factors accelerating the tests. The test acceleration coefficient was calculated relative to the operating mode of transistors.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectпостепенные отказыru_RU
dc.subjectметоды имитационных воздействийru_RU
dc.subjectускоренные испытанияru_RU
dc.subjectЭйринга модельru_RU
dc.subjectsemiconductor devicesru_RU
dc.subjectgradual failuresru_RU
dc.subjectsimulation methodru_RU
dc.subjectaccelerated testingru_RU
dc.subjectAyring modelru_RU
dc.titleУскоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработкуru_RU
dc.title.alternativeAccelerated tests of high power bipolar transistors for long operationru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kalita_Uskorennyye.pdf216.96 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.