Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47293
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЖаворонок, И. А.-
dc.contributor.authorТихон, О. И.-
dc.date.accessioned2022-06-07T07:54:40Z-
dc.date.available2022-06-07T07:54:40Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationЖаворонок, И. А. Анализ технологии плазменной обработки полупроводниковых структур / И. А. Жаворонок, О. И. Тихон // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 403–405. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47293-
dc.description.abstractПроведен анализ разновидностей сухого травления, в частности такого вида сухого травления как ионно-плазменная обработка. Описано влияние на пластину и ее поверхность данного вида травления. An analysis of the varieties of dry etching, in particular, such a type of dry etching as ion-plasma processing, has been carried out. The effect of this type of etching on the wafer and its surface is described.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectплазменное травлениеru_RU
dc.subjectсверхвысокочастотные плазмыru_RU
dc.subjectсверхвысокочастотные магнетроныru_RU
dc.subjectplasma etchingru_RU
dc.subjectmicrowave plasmaru_RU
dc.subjectmicrowave magnetronru_RU
dc.titleАнализ технологии плазменной обработки полупроводниковых структурru_RU
dc.title.alternativeAnalysis of the plasma processing technology of semiconductor structuresru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Zhavoronok_Analiz.pdf215.54 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.