| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Трапашко, И. И. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-09-15T12:08:38Z | - |
| dc.date.available | 2022-09-15T12:08:38Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Трапашко, И. И. Тест износоустойчивости энергонезависимой памяти микроконтроллеров / Трапашко И. И., Деменковец Д. В. // Компьютерные системы и сети : сборник статей 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 18–22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 29–31. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48086 | - |
| dc.description.abstract | В работе приводятся краткие сведения об энергонезависимой памяти микроконтроллеров STM32F103C8T6 и ATmega328P, приведены результаты тестов износоустойчивости, включая коэффициент запаса и описание возникших ошибок. Описан алгоритм уменьшения износа памяти. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
| dc.subject | энергозависимая память | ru_RU |
| dc.subject | flash-память | ru_RU |
| dc.title | Тест износоустойчивости энергонезависимой памяти микроконтроллеров | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2022)
|
