| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-09-24T08:31:05Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:44:43Z | - |
| dc.date.available | 2015-09-24T08:31:05Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-20T08:44:43Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Пискун, Г. А. Функциональные и эксплуатационные характеристики микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 /Г. А. Пискун; науч. рук. А. В. Федорович. - Мн.: БГУИР, 2015. - 21 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/4829 | - |
| dc.description.abstract | Цель работы: анализ функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов, моделирование возникающих тепловых полей с учетом особенностей теплопереноса и разработка методик технической диагностики на основе анализа повреждений в записанном во встроенную флеш-память программном коде. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллер | ru_RU |
| dc.subject | контроль | ru_RU |
| dc.subject | electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.subject | microcontroller | ru_RU |
| dc.subject | control | ru_RU |
| dc.title | Функциональные и эксплуатационные характеристики микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Functional and operational characteristics of microcontrollers after exposure to electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| local.description.annotation | The object of study: analysis of functional and operational characteristics of microcontrollers after exposure to electrostatic discharges occurring modeling of thermal fields taking into account peculiarities heat transfer and the development of methods of technical diagnostics based on analysis of damage recorded on the built-in flash memory programming code. | - |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
