05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
: [46]
Collection home page
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 46
| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2008 | Пористые полупроводниковые и диэлектрические наноструктурированные материалы, формируемые электрохимическим анодированием | Лазарук, С. К. |
| 2022 | Формирование из газовой фазы функциональных слоев субмикронных структур интегральных микросхем на основе кремния | Наливайко, О. Ю. |
| 2022 | Шумовые полупроводниковые диоды с управляемым уровнем дефектности высоколегированных кремниевых структур | Буслюк, В. В. |
| 2020 | Быстрые термические процессы в технологии создания электронной элементной базы для аэрокосмической техники | Солодуха, В. А. |
| 2022 | Газовые сенсоры с низким энергопотреблением на наноструктурированных подложках из оксида алюминия | Денисюк, С. В. |
| 2019 | Нанокомпозитные диэлектрические покрытия на основе пористого анодного оксида алюминия для плат мощных светодиодных модулей | Динь, Х. Т. |
| 2018 | Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров | Шнейдеров, Е. Н. |
| 2018 | Приборно-технологическое моделирование интегральных датчиков Холла на основе кремния, антимонида индия и нитрида галлия | Дао Динь Ха |
| 2012 | Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур | Емельянов, А. В. |
| 2002 | Фазо-структурные особенности, электрофизические и сорбционные свойства пленок snox, полученных термическим окислением олова | Зарапин, В. Г. |
| 2005 | Атомные конфигурации и электронные свойства наноструктур на основе кремний- металл | Кривошеева, А. В. |
| 2002 | Формирование субмикронного рельефа тонких пленок обратной литографией с использованием металлических и оксидных масок | Прудник, А. М. |
| 2002 | Формирование модифицированного анодного оксида алюминия для светоизлучающих структур | Позняк, А. А. |
| 2009 | Формирование функциональных слоев пошаговым и двойным легированием для интегральных микросхем с элементами субмикронных размеров | Плебанович, В. И. |
| 2013 | Методики контроля функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов | Пискун, Г. А. |
| 2003 | МОП - конденсаторы интегральных схем на основе пентаоксида тантала | Петлицкая, Т. В. |
| 2005 | Термические методы выявления ранних отказов электронных модулей пластиковых карт | Таболич, Т. Г. |
| 2007 | Формирование и свойства монокристаллов CuIn3Se5, CuGa3Se5, CuGasSeg и гетероструктур на их основе | Кушнер, Т. Л. |
| 2005 | Формирование субмикронных кмоп структур с повышенной точностью критических размеров методами проекционной фотолитографии | Коробко, Ю. О. |
| 2000 | Тонкопленочные микросхемы на основе алюминия и его оксидов для криогенных температур | Короткевич, А. В. |
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 46
