Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179
Title: Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров
Authors: Шнейдеров, Е. Н.
Keywords: авторефераты диссертаций
мощные полупроводниковые приборы
постепенные (деградационные) отказы
модель деградации
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Шнейдеров, Е. Н. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Е. Н. Шнейдеров ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2018. - 25 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179
Appears in Collections:05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
avtoreferat_Shneiderov.pdf856,19 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.