Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШнейдеров, Е. Н.-
dc.date.accessioned2019-01-14T12:17:23Z-
dc.date.available2019-01-14T12:17:23Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationШнейдеров, Е. Н. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Е. Н. Шнейдеров ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2018. - 25 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectмощные полупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectпостепенные (деградационные) отказыru_RU
dc.subjectмодель деградацииru_RU
dc.titleПрогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметровru_RU
dc.typeАвторефератru_RU
Appears in Collections:05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
avtoreferat_Shneiderov.pdf856.19 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.