https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179| Title: | Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров |
| Authors: | Шнейдеров, Е. Н. |
| Keywords: | авторефераты диссертаций;мощные полупроводниковые приборы;постепенные (деградационные) отказы;модель деградации |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Шнейдеров, Е. Н. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Е. Н. Шнейдеров ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2018. - 25 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179 |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| avtoreferat_Shneiderov.pdf | 856.19 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.