https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50478| Title: | Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем |
| Other Titles: | А. с. 979935 СССР |
| Authors: | Лифанов, Д. В. Хлопов, Ю. Н. Чернуха, Б. Н. |
| Keywords: | патенты;контрольно-испытательная техника;полупроводники;интегральные схемы |
| Issue Date: | 1982 |
| Publisher: | Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий |
| Citation: | Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем : а. с. 979935 СССР : МПК G 01 M 7/00 / Лифанов Д. В., Хлопов Ю. Н., Чернуха Б. Н. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 3257495/25-28 ; заявл. 23.02.1981 ; опубл. 07.12.1982. – 3 с. |
| Abstract: | Изобретение относится к контрольно-испытательной технике. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50478 |
| Appears in Collections: | Изобретения |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Pat_979935.pdf | 230.56 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.